扫描隧道显微镜（STM）：一种利用量子隧穿效应工作的高分辨率显微镜。它通过极尖锐的探针在导电样品表面上方以极近距离扫描，测量隧穿电流的变化，从而得到表面的原子级形貌与局部电子性质信息。（除表面形貌外，也常用于研究电子态、吸附分子等；该术语在不同语境下还可指相关成像/谱学模式。）
/ˈskænɪŋ ˈtʌnəlɪŋ ˈmaɪkrəˌskoʊp/
The scanning tunneling microscope can image individual atoms on a metal surface.
扫描隧道显微镜可以在金属表面上成像到单个原子。
By adjusting the tip distance, the scanning tunneling microscope reveals subtle changes in the local electronic structure of the sample.
通过调节探针与样品的距离，扫描隧道显微镜能够揭示样品局部电子结构的细微变化。
该术语由三部分组成：scanning（扫描）描述探针在表面逐点移动取样；tunneling（隧穿）指量子力学中的“粒子穿越势垒”现象，是STM信号来源；microscope（显微镜）来自希腊语词根 *micro-*（小）+ -scope（观察）。作为仪器名称，“scanning tunneling microscope”在20世纪80年代随STM技术兴起而广泛使用。
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